高溫測(cè)試箱的目的是為了保證產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或操作時(shí)的適用性。高溫測(cè)試箱只適用于在經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的溫升后能達(dá)到的溫度穩(wěn)定的試樣。試樣在規(guī)定的試樣高溫等級(jí)上達(dá)到穩(wěn)定溫度的瞬間可開(kāi)始計(jì)算試樣的試樣持續(xù)時(shí)間。對(duì)在測(cè)試過(guò)程中溫度不穩(wěn)定的樣品，如航空和宇航物品，建議進(jìn)行一次特殊的高溫測(cè)試。
 

 

　　對(duì)我們而言，高溫測(cè)試箱內(nèi)試驗(yàn)方法的采用是一個(gè)關(guān)鍵難題，尤其是對(duì)于一些剛接觸高溫試驗(yàn)的企業(yè)而言，究竟采用什么樣的試驗(yàn)方法才能達(dá)到預(yù)期的效果，下面我們就來(lái)介紹幾種可供參考的方法：

 

　　1、假設(shè)試驗(yàn)的目的是為了確保電子電工產(chǎn)品在高溫條件下或工作狀態(tài)下的適用性，常常需要區(qū)分非散熱樣品和散熱樣品。

 

　　2、在進(jìn)行高速散熱試樣試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)采用低氣流速度，以滿足“自由空氣”條件。

 

　　3、非散熱試樣在高溫測(cè)試時(shí)，應(yīng)采用高空氣流速度。

 

　　4、“自由空氣”條件，即空氣運(yùn)動(dòng)僅受散熱樣品本身的影響，樣品輻射能量全部被周圍空氣吸收。

 

　　5、在進(jìn)行低空氣得流速試驗(yàn)時(shí)，均需要求高溫測(cè)試箱風(fēng)速盡量低，且不超過(guò)0.5m/s。